全自動激光粒度儀是一種集光、機、電、計算機為一體的高科技產品，主要用于測量顆粒的粒徑分布。利用光散射原理來測量顆粒的粒徑分布。當激光照射到顆粒上時，顆粒會產生衍射和散射現象，不同粒徑的顆粒會產生不同的散射光分布。通過檢測和分析這些散射光的分布，可以反推出顆粒的粒徑分布。

　　全自動激光粒度儀主要由激光器、樣品池、光學系統、探測器和數據處理系統等部分組成。激光器發出的激光經過光學系統聚焦后，照射到樣品池中的顆粒上。顆粒散射的光被光學系統收集，并聚焦到探測器上。探測器將光信號轉換成電信號，數據處理系統對這些電信號進行分析和處理，最終得到顆粒的粒徑分布信息。

　　全自動激光粒度儀的核心測量技術特點：

　　1、全量程米氏散射理論（Mie Scattering Theory）：

　　采用z精確的米氏散射理論進行數據反演計算，而非近似的夫瑯禾費（Fraunhofer）理論。

　　優勢：能準確測量從亞微米級（如0.02µm）到毫米級（如2000µm）的寬范圍顆粒，尤其對小顆粒（<1µm）和接近散射角度極限的顆粒測量精度更高，并可考慮顆粒的折射率和吸收率，結果更真實可靠。

　　2、先進的光學系統設計：

　　長焦距傅里葉光學變換系統：確保散射角與探測器位置的精確對應關系，提高角度分辨率。

　　大角度散射光采集：配備多層、高密度的光電探測器陣列，能捕捉到從前向、側向到后向（高達140°以上）的散射光信號。

　　優勢：有效提升對亞微米級超細顆粒的分辨能力和測量靈敏度，避免小顆粒信號被大顆粒信號掩蓋。

　　3、高動態范圍與高分辨率探測器：

　　采用高靈敏度、低噪聲的光電探測器（如雪崩光電二極管APD用于小角，硅光電二極管用于大角），確保微弱散射信號也能被精確捕捉。

　　探測器數量多（可達百個以上），分布合理，保證數據采集的完整性和分辨率。